研究者
J-GLOBAL ID:200901033724474954   更新日: 2024年02月01日

細川 利典

ホソカワ トシノリ | HOSOKAWA Toshinori
所属機関・部署:
職名: 教授
ホームページURL (1件): http://vlsicad03.su.cit.nihon-u.ac.jp/~web/
研究分野 (2件): 計算機システム ,  電子デバイス、電子機器
研究キーワード (27件): 論理暗号化 ,  トロイ検出 ,  欠陥検出率 ,  テスト圧縮 ,  低消費電力 ,  テスト生成 ,  割当決定グラフ ,  テスト容易化スケジューリング ,  テスト容易化バインディング ,  動作合成 ,  2 pattern test ,  1 pattern test ,  State transition Coverage ,  Fault dependent ,  Fault Independent ,  FSM ,  テストプラン ,  レジスタ・トランスファーレベル ,  テスト容易化設計 ,  欠陥検出率 ,  縮退故障 ,  n回検出 ,  テストパターン ,  ハードウェア・ソフトウェア協調設計 ,  キャド ,  テスト ,  システムエルエスアイ
競争的資金等の研究課題 (2件):
  • 2017 - 2019 SoCのテスト容易化設計
  • 2014 - 2017 高位設計からのLSIの非スキャンテスト容易化動作合成及びテスト生成に関する研究
論文 (103件):
  • Masayoshi Yoshimura; Atsuya Tsujikawa; Hiroshi Yamazaki; Toshinori Hosokawa. CRLock: A SAT and FALL Attacks Resistant Logic Locking Method at Register Transfer Level. 2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT). 2022. 4.3. 1-6
  • Kyohei Iizuka, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki and Masayoshi Yoshimura. An Additional State Transition Insertion Method to Improve Transition Fault Coverage for Controllers. Digest of Papers of 22nd Workshop on RTL and High Level Testing. 2021. 3.2. 1-6
  • Kohei Tsuchibuchi, Toshinori Hosokawa and Koji Yamazaki. A Don’t Care Filling Method for Control Signal Values of Controllers to Enhance Fault Diagnosability at Register Transfer Level. Digest of Papers of 22nd Workshop on RTL and High Level Testing. 2021. 1.2. 1-6
  • Natsuki Ota, Toshinori Hosokawa, Koji Yamazaki, Yukari Yamauchi and Masayuki Arai. An Estimation Method of Defect Types Using Artificial Neural Networks and Fault Detection Information. Digest of Papers of 22nd Workshop on RTL and High Level Testing. 2021. 1.3. 1-6
  • Kenta Nakamura, Yuta Ishiyama and Toshinori Hosokawa. A Test Generation Method Using Information of Design for Testability at Register Transfer Level. Digest of papers of THE 21ST WORKSHOP ON RTL AND HIGH LEVEL TESTING. 2020. 1.3. 1-6
もっと見る
MISC (1件):
  • Toshinori Hosokawa, Hiroshi Date, Masahide Miyazaki, Michiaki Muraoka, and Hideo Fujiwara. A Test Plan Grouping Method to Shorten Test Length for RTL Data Paths under a Test Controller Area Constraint. IEICE Transaction on Information and Systems. 2003. E56-D. 12. 2674-2683-2683
書籍 (2件):
  • 知識ベース 知識の森
    電子情報通信学会 2010
  • VLSI Logic Synthesis and Design
    IOS Press, Ohmsha 1991
講演・口頭発表等 (194件):
  • 論理圧縮を用いた機能修正回路による論理ロック手法
    (電子情報通信学会VLSI設計技術研究会 2023)
  • 擬似ブール最適化を用いた論理BISTにおけるテスト実行時間最小化のためのシード選択手法
    (電子情報通信学会VLSI設計技術研究会 2023)
  • 組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法
    (電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2023)
  • 2パターン並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
    (電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2023)
  • 故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法
    (電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2023)
もっと見る
学歴 (1件):
  • - 1987 明治大学 工学部 電子通信工学科
委員歴 (6件):
  • 2009/01 - 現在 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員
  • 2017/01 - 2019/12 IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Chair of Steering Comittee
  • 2011/04/01 - 2015/03/31 情報処理学会 情報処理学会論文誌TSLDM(Transactions on System LSIDesign Methogology)編集委員
  • 2011/04 - 2015/03 情報処理学会 情報処理学会論文誌TSLDM(Transactions on System LSI,Design Methogology)編集委員
  • 2006/05 - 2010/05 電子情報通信学会 電子情報通信学会和文論文誌D編集委員
全件表示
受賞 (3件):
  • 2020/11 - Workshop on RTL and High Level testing Best Paper Award (WRTLT'19) A Don’t Care Identification-Filling Co-Optimization Method for Low Capture Power Testing Using Partial MaxSAT
  • 2015/11/25 - IEEE Best Paper Award A Scheduling Method for Hierarchical Testability Using Results of Test Environment Generation
  • 2015/11 - IEEE Best Paper Award A Scheduling Method for Hierarchical Testability Using Results of Test Environment Generation
所属学会 (3件):
IEEE ,  電子情報通信学会 ,  情報処理学会
※ J-GLOBALの研究者情報は、researchmapの登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、こちらをご覧ください。

前のページに戻る