研究者
J-GLOBAL ID：200901033793858209   更新日: 2023年04月24日

中村 吉男

ナカムラ ヨシオ | Nakamura Yoshio
所属機関・部署：
東京工業大学

東京工業大学 について


研究分野 (3件)： 構造材料、機能材料 ,  金属材料物性 ,  応用物性
競争的資金等の研究課題 (8件)：
  • 2000 - 2002 Structural Properties of nano-composite films
  • 2000 - 2002 ナノコンポジット薄膜の構造と物性
  • Study on structures and their phase stability of compound semiconductors
  • Research of new optical properties for compound semiconductors
  • magnetic measurement for nano-materials using scanning Lorentz microscopy
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MISC (86件)：
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書籍 (6件)：
  • Practical Microscopy Techniques fof Materials Development
    2006
  • Characterization nano-stryctured Metallic Materials
    2006
  • 材料開発のための顕微鏡法と応用写真集
    (社)日本金属学会 2006
  • 金属ナノ組織解析法
    アグネ技術センター 2006
  • 材料の科学と工学[1] 材料の微細構造
    培風館 2002
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講演・口頭発表等 (33件)：
  • Thickness-dependent perpendicular magnetic anisotropy of CoPt layer on CoPt/AlN multilayer
    (The Eleventh Joint MMM-Intermag Conference 2010)
  • Effect of tool shape on interfacial microstructure of friction stir spot welded aluminum/steel lap joint
    (The 8th International Symposium of Friction Stir Welding 2010)
  • Thickness-dependent perpendicular magnetic anisotropy of CoPt layer on CoPt/AlN multilayer
    (The Eleventh Joint MMM-Intermag Conference 2010)
  • Effect of tool shape on interfacial microstructure of friction stir spot welded aluminum/steel lap joint
    (The 8th International Symposium of Friction Stir Welding 2010)
  • Elastic strain induced magnetization antiparallel alignment in perpendicular anisotropic CoPt/AlN layered structure
    (2009)
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Works (2件)：
  • Local Magnetic mesurement of nanostructured films using scanning Lorentz microscopy
    2000 - 2000
  • 走査ローレンツ電子顕微鏡によるナノ構造薄膜の磁気計測
    2000 - 2000
学歴 (3件)：
  • - 1983 東京工業大学
  • - 1983 東京工業大学 理工学研究科 金属工学
  • - 1980 東京工業大学 工学部 金属工学
学位 (1件)：
  • 工学博士 (東京工業大学)
経歴 (4件)：
  • 1992 - -:
  • 1992 - -:東京工業大学 助教授
  • 1983 - -:
  • 1983 - -:東京工業大学 助手
受賞 (1件)：
  • 1989 - 本多記念研究奨励賞
所属学会 (3件)：
日本金属学会 ,  日本応用物理学会 ,  日本電子顕微鏡学会
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