研究者
J-GLOBAL ID:200901035472532266   更新日: 2020年08月30日

田川 精一

タガワ セイイチ | Tagawa Seiichi
所属機関・部署:
MISC (188件):
特許 (2件):
  • X線回折測定用シリコン基板(極微小試料のためのX線測定用基板)
  • X線回折測定用シリコン基板(極微小試料のためのX線測定用基板)
Works (2件):
  • 新産業創造指向インターナノサイエンス
    2005 -
  • 陽電子消滅法を利用した生体高分子ゲルのナノ空間構造解析
    2004 -
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