研究者

J-GLOBAL ID：200901038217187767 更新日: 2011年01月23日

宍戸哲夫

シシドテツオ | Shishido Tetsuo

所属機関・部署：
職名：教授

研究分野 (1件)：数理物理、物性基礎

研究キーワード (6件)： X線回折 , 電子線回折 , 結晶構造 , X-ray diffraction , Electron diffraction , Structure of crystals

競争的資金等の研究課題 (2件)：

電子線回折法による結晶構造解析
An analysis of crystal-structure by the electron-diffraction methods

MISC (3件)：

Determination of Structural Parameters of Bi by the Critical Voltage Method. Acta Crystallographica(A). 1978. 34. S4
Determination of Structure Factors of Ge by the Critical-Voltage and Convergent-Beam Diffraction Method. Physica status solidi (a). 1976. 38. 2. 453-461
Relation between the 111 and 222 Structure Factors of Si Determined by Critical Voltage Method. Japanese Journal of Applied Physics. 1975. 14. 1

学歴 (2件)：

- 1968 東北大学理学部物理学第二学科
- 1968 東北大学

所属学会 (1件)：

日本物理学会

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