研究者

J-GLOBAL ID：200901041476139755 更新日: 2022年09月25日

林照峯

ハヤシテルミネ | Hayashi Terumine

所属機関・部署：
職名：教授

研究分野 (1件)：情報学基礎論

競争的資金等の研究課題 (6件)：

VLSI テスト技術に関する研究
教育支援システムに関する研究
論理回路の設計とテストに関する研究
Research on VLSI Test Technology
Study on Computer-Supported Cooperative Work

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MISC (98件)：

田畑忍, 下村勉, 北英彦, 林照峯. ステップごとの解説の作成と相互評価をとり入れた問題づくり授業(共著). 日本科学教育学会科学教育研究. 2005. 29. 1. 56-65
Test Data Sequence Generation Method for Reduced Scan Shift without Scan Chain Flip-Flop Reordering(共著). Proc. of IEEE 6th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT'05). 2005. 73-78
Parallel Core Testing with Multiple Scan Chains by Test Vector Overlapping (共著). Proc. of 2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-TSA-DAT). 2005. 205-208
Test Modification and Compression Technique for Reducing Total Test Volume with Dictionary Data. Proc. of 6th International Conference on ASIC (ASICON 2005). 2005. 639-644
On Test Data Compression Using Selective Don't-Care Identification. Journal of Computer Science and Technology. 2005. 20. 2. 126-132

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書籍 (2件)：

論理回路とオートマトン(共著)
オーム社 1998
ASICテスト技術とその展望 (共著)
株式会社サイエンスフォーラム 1984

Works (12件)：

パストランジスタ論理のテスト法に関する研究
1996 - 1997
Research on Testing Methods for Pass-transistor Logic
1996 - 1997
高性能論理LSI診断技術の研究
1993 - 1995
Research Test Techniques for High-performance Logic LSIs
1993 - 1995
相互結合プロセッサネットワークを用いた素子構成の最適化システムの特許(日本,米国,韓国他に出願)
1988 - 1989

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学位 (1件)：

博士(工学) (名古屋大学)

受賞 (1件)：

2002 - FIT2002論文賞

所属学会 (4件)：

IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers) , 情報処理学会 , 電子情報通信学会 , IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers)

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