研究者
J-GLOBAL ID:200901047676647508   更新日: 2024年04月17日

長谷川 繁彦

ハセガワ シゲヒコ | Hasegawa Shigehiko
所属機関・部署:
職名: 准教授
研究分野 (4件): 電子デバイス、電子機器 ,  薄膜、表面界面物性 ,  結晶工学 ,  応用物性
研究キーワード (4件): 応用物性・結晶工学 ,  表面界面物性 ,  Applied Physics of Property and Crystallography ,  Surface Physics of Condensed Matter
競争的資金等の研究課題 (35件):
  • 2019 - 2023 オール金属材料によるスピン流の完全無損失化
  • 2017 - 2020 空間分布を制御した希土類添加III族窒化物半導体の形成とその磁気特性
  • 2015 - 2018 両極伝導性水素吸蔵体を利用した電荷・スピンの相反型蓄積機能
  • 2015 - 2018 イオンエネルギー確率分布関数制御型プラズマによる窒化ホウ素薄膜の組成制御の研究
  • 2012 - 2015 電流注入型スピン偏極度計のデザインと擬似XORゲートへの応用
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論文 (78件):
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MISC (349件):
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特許 (3件):
  • 不純物濃度測定方法(特許願第2000-66698号)
  • 不純物濃度測定方法, STM測定方法及びSTS測定方法(特許願第2001-68069号)
  • (特許)化合物半導体のエピチキシャル成長方法 特許第3089732号
書籍 (10件):
  • Growth temperature dependence of InAs islands grown on GaAs(001)substrates
    13<sup>th</sup> Int. Conf. on Indium Phosphide and Related Materials Conference Proceedings 2001
  • Characterization of a 0.1μm MOSFET using cross-sectional scanning tunneling microscopy
    59th Device Research Conference, Conference Digest 2001
  • STM study of annealing effects on Si nano ┣DBpn(/)-┫DB junctions fabricated by ion implantation
    2000 MRS Fall Meeting Abstracts 2000
  • Scanning tunneling microscopy study of InAs islanding and dissolving on GaAs(001)surfaces
    2000 MRS Fall Meeting Abstracts 2000
  • Formation of InAs and InGaAs quantum wires and dots on vicinal GaAs(110)substrates with giant steps by MBE(共著)
    Ext. Abst. of Int. Conf. on Superlattices, Microstructures and Microdevices 1997
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Works (18件):
  • 強磁性窒化物半導体のナノ構造における磁性制御に関する研究
    2009 -
  • 希土類元素添加の精密制御による物性・機能性の開拓
    2009 -
  • 室温強磁性窒化物物半導体ナノ構造とナノスピントロニクスデバイス応用に関する研究
    2009 -
  • InGaNベース強磁性半導体による長波長円偏光半導体レーザ創製に関する研究
    2009 -
  • 難固溶不純物原子添加半導体のナノ量子構造に関する実験的研究
    2008 -
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学位 (1件):
  • 工学博士 (大阪大学)
受賞 (4件):
  • 2006 - Best Paper Award
  • 2006 - Best Paper Award
  • 1994 - 熊谷記念真空科学論文賞
  • 1989 - 井上研究奨励賞
所属学会 (4件):
米国物理学会 ,  日本真空協会 ,  日本物理学会 ,  応用物理学会
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