研究者

J-GLOBAL ID：200901057103638810 更新日: 2022年10月18日

斎藤雄治

サイトウユウジ | Saito Yuji

所属機関・部署：
職名：シニアエキスパート

研究分野 (1件)：材料力学、機械材料

研究キーワード (2件)： X線応力測定 , X-Ray Stress Measurement

競争的資金等の研究課題 (6件)：

アルミニウム薄膜のX線応力測定
任意の結晶構造をもつ多結晶体のX線的弾性定数
シリコン単結晶のX線応力測定
X-Ray Stress Measurement of Thin Aluminum Film
X-Ray Elastic Constants of Polycrystalline Material with Arbitrary Crystal Structure

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論文 (4件)：

斎藤雄治, 栗田政則, 徐農艶. 任意の結晶構造を持つ多結晶体のX線的弾性定数. 日本機械学会論文集 A編. 2005. 71. 710. 1399-1405
斎藤雄治, 栗田政則, 石井斉. 単結晶の新しいX線応力測定法. 材料. 2004. 53. 12. 1384-1391
斎藤雄治, 栗田政則, 澤口義郎. シリコン単結晶のX線残留応力測定法. 日本機械学會論文集. A編 = Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. A. 2003. 69. 686. 1482-1489
栗田政則, 斎藤雄治. 集合組織をもつ材料のX線応力測定法. 日本機械学会論文集. A編. 1996. 62. 596. 1104-1110

MISC (4件)：

斎藤雄治, 栗田政則, 石井斉. 単結晶の新しいX線応力測定法. 日本実験力学会講演論文集. 2003. 3. 265-270
斎藤雄治, 栗田政則. シリコンウェハに被覆したアルミニウム薄膜のX線残留応力測定法. 日本実験力学会研究発表講演会講演論文集. 2001. 1. 171-174
斎藤雄治, 栗田政則. X線によるシリコン単結晶の残留応力測定法. 日本実験力学会研究発表講演会講演論文集. 2001. 1. 179-182
M Kurita, Y Saito. X-ray stress measurement for textured materials. JSME INTERNATIONAL JOURNAL SERIES A-SOLID MECHANICS AND MATERIAL ENGINEERING. 1997. 40. 2. 135-142

学歴 (4件)：

2001 - 2005 長岡技術科学大学材料工学専攻
1993 - 1995 長岡技術科学大学工学研究科機械システム工学専攻
1991 - 1993 長岡技術科学大学機械システム工学課程
1986 - 1991 長岡工業高等専門学校機械工学科

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