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J-GLOBAL ID：200902000044108323   整理番号：82A0120908

高圧電子顕微鏡によるAg-Cuにおける点欠陥移動度の研究

A study of the point-defect mobility in Ag-Cu by high-voltage electron microscopy.

著者 (2件)： TAKAHASHI H (Max-Planck-Inst. Metallforschung, FRG) ,  URBAN K (Max-Planck-Inst. Metallforschung, FRG)
資料名： Physica Status Solidi. A. Applied Research  (Physica Status Solidi. A. Applied Research)
巻： 67  号： 1  ページ： 347-359  発行年： 1981年09月 
JST資料番号： D0774A  ISSN： 0031-8965  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 300~775Kの温度範囲で,Ag-0.17at%Cu合金に...

シソーラス用語： 電子顕微鏡観察 ,...

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分類 (3件)： 金属の放射線による構造と物性の変化  (BK16122N) ,  金属中の拡散  (BL06022C) ,  金属の格子欠陥  (BK12030F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 高圧電子顕微鏡 ,  Ag ,  Cu ,  点欠陥 ,  移動度 ,  研究