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J-GLOBAL ID：200902000051504420   整理番号：92A0049382

干渉計を用いた屈折率分布の高精度測定

Accurate Refractive-Index Profile Measurement using an Interferometer.

著者 (5件)： 松崎弘 (オリンパス光学工業) ,  橋本武 (オリンパス光学工業) ,  槌田博文 (オリンパス光学工業) ,  百村和司 (オリンパス光学工業) ,  山本公明 (オリンパス光学工業)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 52nd  号： 3  ページ： 816  発行年： 1991年10月 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (2件)： 干渉計 ,  屈折率分布