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J-GLOBAL ID：200902000087190147   整理番号：86A0374574

金相学研究への分析走査電子顕微鏡の応用 I

Application of the analytical scanning electron microscope for metallographic investigations. (Part 1)
著者 (1件)：
SCHWAAB P

SCHWAAB P について

(Mannesmann Forschungsinst. GmbH, FRG)

Mannesmann Forschungsinst. GmbH, FRG について


資料名：
Praktische Metallographie  (Praktische Metallographie)

Praktische Metallographie について


巻： 23  号： 1  ページ： 15-25  発行年： 1986年01月 
JST資料番号： B0731A  ISSN： 0032-678X  CODEN： PMTLA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： ドイツ (DEU)  言語： ドイツ語 (DE)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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古典的な透過電顕(TEM)の出現,高解像力を応用した制限視野...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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金属組織学

金属組織学 について

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解像力

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分類 (1件)：
分類
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金属組織観察法 
(WB01010R)

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タイトルに関連する用語 (5件)：
タイトルに関連する用語
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金相学

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研究

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分析

分析 について

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走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 について

, 
応用

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