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文献J-GLOBAL ID:200902000178834144整理番号:90A0918988

Al/Ge単結晶薄膜の界面成長様式の原子サイズレベルの観測

Atomic image observation by high resolution electron microscope at the interface between Al epitaxialy grown films and Ge substrate.

著者:和田真一郎(京大)、臼井博明(京大)、山田公(京大)・・・
資料名:応用物理学会学術講演会講演予稿集 巻:51st 号:2 ページ:365
発行年:1990年09月
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