J-GLOBAL ID:200902001861015422整理番号:87A0139362
Analyzing hot-carrier effects on cold CMOS devices.
冷却CMOS素子におけるホットキャリア効果の解析
著者:BIBYK S B(Ohio State Univ., OH, USA)、WANG H(Ohio State Univ., OH, USA)、BORTON P(Ohio State Univ., OH, USA)
資料名:IEEE Trans Electron Devices 巻:34 号:1 ページ:83-88
発行年:1987年01月
資料名:IEEE Trans Electron Devices 巻:34 号:1 ページ:83-88
発行年:1987年01月