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{{ $t("message.AD_EXPIRE_DATE") }}2024年03月
文献
J-GLOBAL ID:200902001871532387 整理番号:92A0293075
a-Siダイオードの電流劣化:その温度依存性
Degradation of a-Si diodes.
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著者 (1件):
柳沢武
柳沢武 について
名寄せID(JGPN) 200901100380154407 ですべてを検索
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(
電総研
)
電総研 について
名寄せID(JGON) 202251000174502103 ですべてを検索
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資料名:
電子情報通信学会大会講演論文集 (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
電子情報通信学会大会講演論文集 について
JST資料番号 G0508A ですべてを検索
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巻:
1992
号:
Shunki Pt 5
ページ:
5.130
発行年:
1992年03月
JST資料番号:
G0508A
ISSN:
1349-1369
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*温度依存性
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