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J-GLOBAL ID：200902001882492280   整理番号：89A0060253

Bi₂Fe₄O₉中の3.1GeV-キセノンイオンの潜跡 Moessbauer法と電子顕微鏡による研究

3.1 GeV-xenon ion latent tracks in Bi₂Fe₄O₉: Moessbauer and electron microscopy studies.

著者 (4件)： GROULT D (ISMRA, Caen, FRA) ,  HERVIEU M (ISMRA, Caen, FRA) ,  NGUYEN N (ISMRA, Caen, FRA) ,  RAVEAU B (ISMRA, Caen, FRA)
資料名： Journal of Solid State Chemistry  (Journal of Solid State Chemistry)
巻： 76  号： 2  ページ： 248-259  発行年： 1988年10月 
JST資料番号： H0505A  ISSN： 0022-4596  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Bi₂Fe₄O<...

シソーラス用語： ビスマス化合物 ,...

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分類 (2件)： 塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  放射線物理一般  (BK16010L)

タイトルに関連する用語 (5件)： キセノン ,  イオン ,  跡 ,  電子顕微鏡 ,  研究