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文献J-GLOBAL ID:200902001905420001整理番号:90A0076149

Study of the structure and chemistry of point, line and planar imperfections via field-ion and atom-probe field-ion microscopy.

電界イオンと原子プローブ電界イオン顕微鏡を用いた点,線,平状欠陥の構造と化学の研究

著者:SEIDMAN D N(Northwestern Univ., Illinois, USA)
資料名:Charact Struct Chem Defects Mater ページ:315-328
発行年:1989年
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