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J-GLOBAL ID：200902001920499650   整理番号：90A0426554

二重傾斜及び傾斜-回転試料支持台を用いて結晶試料方位調節を行なうための傾斜角の計算

Calculation of tilt angles for crystal specimen orientation adjustment using double-tilt and tilt rotate holders.

著者 (3件)： LIU Q (Harbin Inst. Technology, Harbin, CHN) ,  MENG Q-C (Harbin Inst. Technology, Harbin, CHN) ,  HONG B (Harbin Inst. Technology, Harbin, CHN)
資料名： Micron and Microscopica Acta  (Micron and Microscopica Acta)
巻： 20  号： 3/4  ページ： 255-259  発行年： 1989年 
JST資料番号： E0318D  ISSN： 0739-6260  CODEN： MMACDN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透過電子顕微鏡において結晶試料方位調節の傾斜角を計算する一連...

シソーラス用語： 結晶方位 ,...

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分類 (2件)： 電子回折法  (BK01030T) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 試料 ,  支持台 ,  結晶 ,  方位 ,  調節 ,  傾斜角 ,  計算