HALLIDAY A について
Texas Instruments Inc., Texas について
YOUNG G について
Texas Instruments Inc., Texas について
CROUCH A について
Texas Instruments Inc., Texas について
Proceedings. International Test Conference について
故障検出 について
スキャンパス法 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
プリント回路 について
スキャン について
バッファ について
プロトタイプ について
試験法 について