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J-GLOBAL ID：200902001990614731   整理番号：93A0722481

Amorphous-to-crystalline transformation and metal induced crystallization phenomena in a-Si:F and a-Si:D:H thin films.

著者 (6件)： EDELMAN F (Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR) ,  CYTERMANN C (Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR) ,  BRENER R (Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR) ,  EIZENBERG M (Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR) ,  WEIL R (Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR) ,  BEYER W (KFA Juelich, DEU)
資料名： Kinetics of Phase Transformations  (Kinetics of Phase Transformations)
ページ： 75-80  発行年： 1992年 
JST資料番号： K19930408  ISBN： 1-55899-097-6  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： Si