J-GLOBALについて

ENGLISH

文字サイズ
  • 小
  • 大

文献の詳細情報

文献J-GLOBAL ID:200902002022437849整理番号:84A0009053

Design of totally self-checking circuits with an unrestricted stuck-at fault-set using redundancy in space and time domains.

時間空間領域冗長を使った無制限固定故障集合に関する全自己検査回路の設計

著者:RAO K V S S P(Vikram Sarabhai Space Centre, India)、BASU D(Vikram Sarabhai Space Centre, India)
資料名:IEEE Trans Comput 巻:32 号:5 ページ:464-475
発行年:1983年05月
  • J-GLOBALホームを見る
  • J-GLOBALをブックマークする

J-GLOBALでつながる、ひろがる、ひらめく

J-GLOBALについて

情報がつながる

J-GLOBALでは研究開発でキーとなる情報をつないでいます。例えば、文献と特許を人(著者・発明者)でつなぎ、そのつながりから次々と情報を取り出せます。
新たな気付きや、今まで見つからなかった情報の発見に役立ちます。

発想がひろがる

着目した情報が、連携する外部サイトリンクや内容が近い情報が見つかる関連検索でひろがります。
異分野の知識獲得や専門分野を超えた発想を支援します。

アイディアがひらめく

つながる・ひろがるの繰り返しから、思わぬ問題解決のヒントや新たなアイディアがひらめくキッカケを提供します。