順序テストパターン作成のためのBACKアルゴリズム

文献

J-GLOBAL ID：200902002027894784 整理番号：89A0345939

The back algorithm for sequential test generation.

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著者 (1件)：
資料名：
巻： 1988 ページ： 66-69 発行年： 1988年
JST資料番号： D0858B ISSN： 1063-6404 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

順序回路のテストパターン作成のためのBACKアルゴリズムと呼...

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固体デバイス計測・試験・信頼性

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