MUTHUKRISHNAN C について
Purdue Univ., IN, USA について
SMITH D について
LORD Corp., NC, USA について
MYERS D について
LORD Corp., NC, USA について
REBMAN J について
LORD Corp., NC, USA について
KOIVO A について
Purdue Univ., IN, USA について
Proceedings. IEEE International Conference on Robotics and Automation について
接触 について
パターン認識 について
触覚 について
イメージ について
エッジ検出 について