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J-GLOBAL ID：200902002033287849   整理番号：87A0229936

広範囲の応用をもつ走査電子顕微鏡

Rasterelektronenmikroskop mit weitverzweigter Applikation.
著者 (3件)：
TOLLKAMP-SCHIERJOTT C

TOLLKAMP-SCHIERJOTT C について

, 
NIEDERLANDE E

NIEDERLANDE E について

, 
SCHOENBRODT L

SCHOENBRODT L について


資料名：
Materialpruefung  (Materialpruefung)

Materialpruefung について


巻： 28  号： 12  ページ： 388-391  発行年： 1986年12月 
JST資料番号： D0278A  ISSN： 0025-5300  CODEN： MTPRA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： ドイツ (DEU)  言語： ドイツ語 (DE)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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フィリップ社製のSEM525Mを例として,走査電子顕微鏡の最...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 について

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陰極

陰極 について


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分類 (2件)：
分類
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電子顕微鏡,イオン顕微鏡 
(BD02050B)

電子顕微鏡,イオン顕微鏡 について

,  金属組織観察法 
(WB01010R)

金属組織観察法 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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応用

応用 について

, 
走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 について


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