J-GLOBAL ID:200902002033287849整理番号:87A0229936
Rasterelektronenmikroskop mit weitverzweigter Applikation.
広範囲の応用をもつ走査電子顕微鏡
著者:TOLLKAMP‐SCHIERJOTT C、NIEDERLANDE E、SCHOENBRODT L
資料名:Materialpruefung 巻:28 号:12 ページ:388-391
発行年:1986年12月
資料名:Materialpruefung 巻:28 号:12 ページ:388-391
発行年:1986年12月