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文献
J-GLOBAL ID:200902002061972867   整理番号:90A0366617

ピコ秒物質,素子および集積回路の電気光学測定法

Electro-optic measurement techniques for picosecond materials, devices, and integrated circuits.
著者 (1件):
資料名:
巻: 28  ページ: 135-219  発行年: 1990年 
JST資料番号: H0543B  ISSN: 0080-8784  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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電気光学結晶を電気信号センサとして使って,現存の光学法では最...
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分類 (2件):
分類
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電気光学効果,磁気光学効果  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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