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J-GLOBAL ID：200902002068542787   整理番号：88A0235463

走査形トンネル電子顕微鏡(STM)について

Scanning tunneling microscope.
著者 (1件)：
津田展宏

津田展宏 について

(計量研)

計量研 について


資料名：
日本機械学会誌  (Journal of the Japan Society of Mechanical Engineers)

日本機械学会誌 について


巻： 91  号： 832  ページ： 209-215  発行年： 1988年03月 
JST資料番号： F0228A  ISSN： 0021-4728  CODEN： NKGKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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今日の表面粗さ測定機,STMの原理(トンネル電流と電界放射電...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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走査電子顕微鏡

走査電子顕微鏡 について

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分類 (1件)：
分類
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電子顕微鏡,イオン顕微鏡 
(BD02050B)

電子顕微鏡,イオン顕微鏡 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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走査形

走査形 について

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トンネル

トンネル について

, 
電子顕微鏡

電子顕微鏡 について

, 
STM

STM について


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