文献
J-GLOBAL ID:200902002080675954
整理番号:83A0179641
スパッタ誘導放射のスペクトル分析による表面像を用いたガラスの研究 I 深さ解像度の高い表面分析法
Investigation of glasses using surface profiling by spectrochemical analysis of sputter-induced radiation: I, Surface profiling technique with high in-depth resolution.
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