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J-GLOBAL ID：200902002092481217   整理番号：92A0386969

Test chips aid ASIC qualification.

著者 (5件)： BUEHLER M G (California Inst. Technology, CA) ,  BLAES B R (California Inst. Technology, CA) ,  LIN Y-S (California Inst. Technology, CA) ,  ZAMANI N (California Inst. Technology, CA) ,  LIENEWEG U (California Inst. Technology, CA)
資料名： ESA SP (European Space Agency)  (ESA SP (European Space Agency))
号： 313  ページ： 221-226  発行年： 1991年03月 
JST資料番号： E0016B  ISSN： 0379-6566  資料種別： 会議録 (C)
発行国： フランス (FRA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (2件)： AID ,  ASIC