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J-GLOBAL ID：200902002096956503   整理番号：89A0190989

ICの信頼性に対する温度の影響 原理とコスト計算

Einfluss der Temperatur auf die IC-Zuverlaessigkeit. Grundlagen und Kostenberechnungen.

著者 (1件)： DENTON D (Texas Instruments, USA)
資料名： Elektronik  (Elektronik)
巻： 38  号： 5  ページ： 64-66,68  発行年： 1989年03月03日 
JST資料番号： C0404A  ISSN： 0013-5658  CODEN： EKRKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： ドイツ (DEU)  言語： ドイツ語 (DE)

抄録/ポイント： 1970年代末~80年代初は日本の高品質製品の圧力で米国半導...

シソーラス用語： 半導体集積回路 ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： IC ,  信頼 ,  原理 ,  コスト計算