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J-GLOBAL ID：200902015489771720   整理番号：89A0172307

分析用走査型電子顕微鏡を使った定量的な大面積のX線画像の作図 連続鋳造鋼における低レベル元素の偏析の研究

Quantitative large-area X-ray mapping with an analytical scanning electron microscope: A study of low-level elemental segregation in continuous cast steels.

著者 (2件)： BUSKES H A (BHP-Melbourne Research Lab., Victoria, AUS) ,  BAUGHMAN G D (Tracor Northern Inc., WI, USA)
資料名： Microbeam Analysis  (Microbeam Analysis)
巻： 23rd  ページ： 44-46  発行年： 1988年 
JST資料番号： E0776B  ISSN： 0278-1727  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 連続的な試料台の動きによる高速度のデータ採取及び鋼中の分析す...

シソーラス用語： 連続鋳造 ,...

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分類 (3件)： その他の金属組織学  (WB01040Y) ,  鋳造法,鋳込  (WC01030Q) ,  金属,合金の物理分析  (CC03040V)

タイトルに関連する用語 (10件)： 分析 ,  走査型電子顕微鏡 ,  定量 ,  大面積 ,  X線画像 ,  作図 ,  連続鋳造 ,  元素 ,  偏析 ,  研究