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J-GLOBAL ID：200902015495696382   整理番号：90A0018892

The need for defect monitoring.

著者 (3件)： SILK M G (Harwell Lab., Oxfordshire, UK) ,  WHAPHAM A D (Harwell Lab., Oxfordshire, UK) ,  HOBBS C P (Harwell Lab., Oxfordshire, UK)
資料名： Non-Destructive Testing, Vol.2  (Non-Destructive Testing, Vol.2)
ページ： 1731-1736  発行年： 1989年 
JST資料番号： K19890420  ISBN： 0-444-87450-X  資料種別： 会議録 (C)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)