VLSIデバイス中のホットエレクトロン信頼性モデリング

文献

J-GLOBAL ID：200902015518614788 整理番号：84A0063644

Hot electron reliability modeling in VLSI devices.

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資料名：
巻： 21st ページ： 96-101 発行年： 1983年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

ホットエレクトロントラッピングのデバイス寸法と印加ゲートバイ...

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固体デバイス計測・試験・信頼性 , 半導体集積回路

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