Si(111)清浄表面上の真性5×5構造の観察

UHRBERG R I G; LANDEMARK E; JOHANSSON L S O

文献

J-GLOBAL ID：200902015524848871 整理番号：89A0538871

Si(111)清浄表面上の真性5×5構造の観察

Observation of an intrinsic 5×5 reconstruction on the clean Si(111) surface.

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資料名：
巻： 39 号： 18 ページ： 13525-13528 発行年： 1989年06月15日
JST資料番号： D0746A ISSN： 1098-0121 CODEN： PRBMDO 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

へき開したSi(111)2×1表面を低温焼鈍することにより,...

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半導体の表面構造

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