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J-GLOBAL ID：200902015547056964   整理番号：91A0207524

高度分析技術に関する研究 電子線マイクロアナライザーによるジルコニアセラミックスの分析

Study on advanced chemical analysis. Analysis of electron probe microanalyser to zirconia ceramics.

著者 (3件)： 中田一則 (宮崎県工試) ,  安藤孝 (宮崎県工試) ,  山内博利 (宮崎県工試)
資料名： 宮崎県工業試験場研究報告  (Reports of the Miyazaki Prefectural Industrial Research Institute)
号： 34(1989)  ページ： 11-18  発行年： 1990年11月 
JST資料番号： G0884B  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： Al₂O₃,Y<...

シソーラス用語： X線光電子分光法 ,...

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分類 (1件)： 無機化合物の物理分析  (CC03024P)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高度 ,  分析技術 ,  研究 ,  電子線 ,  アナライザー ,  ジルコニアセラミックス ,  分析