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J-GLOBAL ID：200902015551577880   整理番号：89A0125540

アナログ半既製ICの開発について リニアICの高信頼度の回路検証

UEber die Entwicklung analoger Semikunden-ICs. Eine zuverlaessige Schaltungsverifikation von Linear-Arrays.

著者 (1件)： BASU J (Raytheon Halbleiter GmbH, Muenchen, DEU)
資料名： Elektronik  (Elektronik)
巻： 37  号： 22  ページ： 122-125  発行年： 1988年10月28日 
JST資料番号： C0404A  ISSN： 0013-5658  CODEN： EKRKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： ドイツ (DEU)  言語： ドイツ語 (DE)

抄録/ポイント： アナログASICは設計に多大な労力を要するが,RCAのRLA...

シソーラス用語： アナログ集積回路 ,...
準シソーラス用語： カスタムIC

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分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (6件)： アナログ ,  IC ,  開発 ,  リニアIC ,  信頼度 ,  検証