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J-GLOBAL ID：200902015575066207   整理番号：92A0168785

走査型トンネル顕微鏡-マイクロレンズ系の実験的評価

Experimental evaluation of a scanning tunneling microscope-microlens system.

著者 (5件)： MURAY L P (IBM Research Division, New York) ,  STAUFER U (IBM Research Division, New York) ,  BASSOUS E (IBM Research Division, New York) ,  KERN D P (IBM Research Division, New York) ,  CHANG T H P (IBM Research Division, New York)
資料名： Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures  (Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻： 9  号： 6  ページ： 2955-2961  発行年： 1991年11月 
JST資料番号： E0974A  ISSN： 1071-1023  CODEN： JVTBD9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： STM調整方式の電界放出微小電子源を開発した。この電子源の輝...

シソーラス用語： マイクロレンズ ,...
準シソーラス用語： STM

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分類 (1件)： 電子源,イオン源  (BD02020U)

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査型トンネル顕微鏡 ,  マイクロレンズ ,  実験 ,  評価