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J-GLOBAL ID：200902015575132617   整理番号：86A0355346

半導体機器および構造中における移動現象の数値解析 III MIS構造の模型化

Численный анализ явлений переноса в полупроводниковых приборах и структурах. 3. Моделирование МДП-структур.

著者 (2件)： АБРАМОВ И И ,  ХАРИТОНОВ В В
資料名： Inzhenerno-Fizicheskij Zhurnal  (Inzhenerno-Fizicheskij Zhurnal)
巻： 50  号： 5  ページ： 845-852  発行年： 1986年05月 
JST資料番号： R0054B  ISSN： 0021-0285  CODEN： INFZA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ベラルーシ (BLR)  言語： ロシア語 (RU)

抄録/ポイント： 単極半導体機器における電荷の移動現象の多次元数値解析の普遍的...

シソーラス用語： MIS構造 ,...

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分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (5件)： 半導体機器 ,  現象 ,  数値解析 ,  MIS構造 ,  模型化