文献
J-GLOBAL ID：200902015607170575
整理番号：83A0456733
薄層活性化技術を用いて測定した電気接点の腐食と移転
Erosion and transfer in electrical contacts measured using the thin layer activation technique.
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著者 (1件)：
資料名：
巻：
6
号：
2
ページ：
218-221
発行年：
1983年06月
JST資料番号：
H0255B
ISSN：
0148-6411
資料種別：
逐次刊行物 (A)
記事区分：
原著論文
発行国：
アメリカ合衆国 (USA)
言語：
英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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電気接点の腐食の研究へイオンビーム活性化技術を応用。本技術応...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (1件)：
分類
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電気接点
タイトルに関連する用語 (5件)：
タイトルに関連する用語
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