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J-GLOBAL ID：200902015625566192   整理番号：85A0162118

電気的な過渡現象で誘起されるTTLゲートの損傷

Damage of TTL gates caused by electric transients.
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著者 (4件)：
ELLIOTT M

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(A&AEE Boscombe Down MOD)

A&AEE Boscombe Down MOD について

, 
MILLENER M J

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(A&AEE Boscombe Down MOD)

A&AEE Boscombe Down MOD について

, 
NORTH P L

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(A&AEE Boscombe Down MOD)

A&AEE Boscombe Down MOD について

, 
RODGER K S

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(A&AEE Boscombe Down MOD)

A&AEE Boscombe Down MOD について


資料名：
Publication. Institution of Electronic and Radio Engineers  (Publication. Institution of Electronic and Radio Engineers)

Publication. Institution of Electronic and Radio Engineers について


号： 60 EC  ページ： 163-170  発行年： 1984年 
JST資料番号： E0739A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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航空機の中に発生する電気的な過渡現象は,大電流のスイッチング...
シソーラス用語：
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トランジスタ

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分類 (1件)：
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論理回路 
(NC05070B)

論理回路 について

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TTL

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