二次電子放出分光:ダイヤモンドおよびダイヤモンド膜表面近傍の評価をするための高感度な新しい方法

HOFFMAN A; PRAWER S; FOLMAN M

文献

J-GLOBAL ID：200902015664574178 整理番号：91A0256686

二次電子放出分光:ダイヤモンドおよびダイヤモンド膜表面近傍の評価をするための高感度な新しい方法

Secondary electron emission spectroscopy: A sensitive and novel method for the characterization of the near-surface region of diamond and diamond films.

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巻： 58 号： 4 ページ： 361-363 発行年： 1991年01月28日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

異なる炭素同素体の評価に二次電子放出(SEE)分光を使用し,...

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Auger電子放出,二次電子放出

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