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文献J-GLOBAL ID:200902015666314866整理番号:92A0040187

Reliability of code density test for high resolution ADCs.

高分解能ADCに対するコード密度テストの信頼性

著者:GINETTI B(Univ. Catholique de Louvain, Louvain‐la‐Neuve, BEL)、JESPERS P(Univ. Catholique de Louvain, Louvain‐la‐Neuve, BEL)
資料名:Electron Lett 巻:27 号:24 ページ:2231-2233
発行年:1991年11月21日
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