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文献J-GLOBAL ID:200902015686942260整理番号:90A0206393

Critical thickness in epitaxial CdTe/ZnTe.

エピタキシャルCdTe/ZnTeにおける臨界膜厚

著者:CIBERT J(Lab. Spectrometrie Physique, Saint Martin d’Heres, FRA)、GOBIL Y(Lab. Spectrometrie Physique, Saint Martin d’Heres, FRA)、DANG L S(Lab. Spectrometrie Physique, Saint Martin d’Heres, FRA)・・・
資料名:Applied Physics Letters 巻:56 号:3 ページ:292-294
発行年:1990年01月15日
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