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J-GLOBAL ID：200902015704643860   整理番号：90A0532670

Electron spectroscopic diffraction at (111) silicon foils.

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著者 (2件)：
REIMER L

REIMER L について

(Univ. Muenster, Muenster, DEU)

Univ. Muenster, Muenster, DEU について

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FROMM I

FROMM I について

(Univ. Muenster, Muenster, DEU)

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資料名：
Proceedings. Annual Meeting. Electron Microscopy Society of America  (Proceedings. Annual Meeting. Electron Microscopy Society of America)

Proceedings. Annual Meeting. Electron Microscopy Society of America について


巻： 47th  ページ： 382-383  発行年： 1989年 
JST資料番号： A0878B  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

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