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文献J-GLOBAL ID:200902018965386694整理番号:91A0116199

ボイド放電劣化における破壊予知

Prediction of breakdown by void discharge aging.

著者:伊藤真澄(武蔵工大)、伊藤泰郎(武蔵工大)、堺孝夫(武蔵工大)・・・
資料名:電気学会論文誌 A 巻:110 号:11 ページ:773-780
発行年:1990年11月
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