文献

J-GLOBAL ID：200902019121011349   整理番号：91A0113867

IC試作期間を短かくするための圧縮CAM状況

A comprehensive CAM environment for fast-turn IC prototyping.

著者 (2件)： BARNUM C B (Massachusetts Microelectronics Center, MA) ,  CUNNINGHAM D J (Massachusetts Microelectronics Center, MA)
資料名： ASMC ’90 Proceedings  (ASMC '90 Proceedings)
ページ： 104-107  発行年： 1990年 
JST資料番号： K19910012  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マサチュセッツ・マイクロエレクトロニクス・センター(M<su...

シソーラス用語： CAM【生産】 ,...

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分類 (1件)： 技術教育  (NA01040M)

タイトルに関連する用語 (4件)： IC ,  試作 ,  CAM ,  状況