p型SiにおけるH<sup>0</sup>の新しいトラップ

文献

J-GLOBAL ID：200902019147549894 整理番号：91A0740286

p型SiにおけるH⁰の新しいトラップ

New traps for H⁰ in p-type Si.

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資料名：
巻： 10 号： 1 ページ： 121-125 発行年： 1991年
JST資料番号： D0600B ISSN： 0749-6036 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

先験的Hartree-Fock近似で,ほう素ドープおよび真性...

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半導体の格子欠陥 , 不純物・欠陥の電子構造

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