文献

J-GLOBAL ID：200902023129881129   整理番号：92A0594436

全反射X線光電子分光法(TRXPS)の数値シミュレーション

A numerical simulation of total reflection X-ray photoelectron spectroscopy(TRXPS).

著者 (6件)： KAWAI J (Inst. Physical and Chemical Research (RIKEN), Saitama, JPN) ,  TAKAMI M (Inst. Physical and Chemical Research (RIKEN), Saitama, JPN) ,  FUJINAMI M (Nippon Steel Corp., Kawasaki, JPN) ,  HASHIGUCHI Y (Nippon Steel Corp., Kawasaki, JPN) ,  HAYAKAWA S (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  GOHSHI Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名： Spectrochimica Acta. Part B. Atomic Spectroscopy  (Spectrochimica Acta. Part B. Atomic Spectroscopy)
巻： 47  号： 8  ページ： 983-991  発行年： 1992年07月 
JST資料番号： B0793A  ISSN： 0584-8547  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 試料物質,X線波長,入射角により透過深さ,減衰領域のX線強度...

シソーラス用語： 全反射 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=92A0594436&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0793A") }}

分類 (2件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (2件)： X線光電子分光法 ,  数値シミュレーション