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J-GLOBAL ID：200902023247216962   整理番号：91A0943582

RHEED oscillation during the epitaxial growth of layered materials.

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著者 (3件)：
SHIMADA T

SHIMADA T について

(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)

Univ. Tokyo, Tokyo, JPN について

, 
OHUCHI F S

OHUCHI F S について

(E.I. DuPont de Nemours & Co. Inc., DE)

E.I. DuPont de Nemours & Co. Inc., DE について

, 
KOMA A

KOMA A について

(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)

Univ. Tokyo, Tokyo, JPN について


資料名：
Advances in Surface and Thin Film Diffraction  (Advances in Surface and Thin Film Diffraction)

Advances in Surface and Thin Film Diffraction について


ページ： 47-52  発行年： 1991年 
JST資料番号： K19910626  ISBN： 1-55899-100-X  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (1件)：
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RHEED

RHEED について


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