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J-GLOBAL ID：200902023254352570   整理番号：91A0182186

I/Oデバイスにおけるシングルイベント誘起過渡応答 特性化

Single event induced transients in I/O devices: A characterization.

著者 (3件)： NEWBERRY D M (Control Data Corp., MN) ,  KAYE D H (Control Data Corp., MN) ,  SOLI G A (Jet Propulsion Lab., CA)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 37  号： 6 Pt 1  ページ： 1974-1980  発行年： 1990年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シングルイベント事象環境に対するシステムレベルの応答は,内部...

シソーラス用語： 重イオン照射 ,...
準シソーラス用語： シングルイベントアップセット

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分類 (2件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： イベント ,  誘起 ,  過渡応答 ,  特性化