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J-GLOBAL ID：200902023276549016   整理番号：93A0251710

Characterization of titanium silicide contacts deposited on semiconducting diamond substrates.

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著者 (7件)：
HUMPHREYS T P

HUMPHREYS T P について

(North Carolina State Univ., NC, USA)

North Carolina State Univ., NC, USA について

, 
JEON H

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(North Carolina State Univ., NC, USA)

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LABRASCA J V

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(North Carolina State Univ., NC, USA)

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TURNER K F

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(North Carolina State Univ., NC, USA)

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NEMANICH R J

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(North Carolina State Univ., NC, USA)

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DAS K

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(Kobe Steel Research Lab. USA, NC)

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, 
POSTHILL J B

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(Research Triangle Inst., NC, USA)

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資料名：
Applications of Diamond Films and Related Materials  (Applications of Diamond Films and Related Materials)

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ページ： 353-358  発行年： 1991年 
JST資料番号： K19930140  ISBN： 0-444-89162-5  資料種別： 会議録 (C)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

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