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J-GLOBAL ID：200902039016565631   整理番号：91A0408073

表面を探る 2. 表面顕微法 Si表面のSTS

Surface physics in progress. 2. Surface microscopy. STS of Si surfaces.

著者 (3件)： 富取正彦 (東京工大 大学院 総合理工学研究科) ,  岩脇文和 (東京工大 大学院 総合理工学研究科) ,  西川治 (東京工大 大学院 総合理工学研究科)
資料名： 日本物理学会誌
巻： 46  号： 4  ページ： 293-295  発行年： 1991年04月 
JST資料番号： F0221A  ISSN： 0029-0181  CODEN： NBGSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 個々の表面原子の電子状態を直接的に調べる走査トンネル分光(S...

シソーラス用語： 表面構造 ,...
準シソーラス用語： STM ,...

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分類 (2件)： 半導体の表面構造  (BK15030A) ,  表面の電子構造  (BM02080J)

引用文献 (13件)：

• 1) R.S. Becker, J.A. Golovchenko, D.R. Hamann and B.S. Swartzentruber: Phys. Rev. Lett. 55 (1985) 2032.
• 2) R.J. Hamers, R.M. Tromp and J.E. Demuth: Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 1972.
• 3) G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber and E. Weibel: Phys. Rev. Lett. 50 (1982) 120.
• 4) R.S. Becker, B.S. Swartzentruber, J.S. Vickers, and T. Klitsner: Phys. Rev. B 39 (1989) 1633.
• 5) O. Nishikawa, M. Tomitori, F. Iwawaki and N. Hirano: J. Vac. Sci. & Technol. A 8 (1990) 421.

タイトルに関連する用語 (3件)： 顕微法 ,  Si ,  STS