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J-GLOBAL ID：200902051447415025   整理番号：88A0462235

炭化けい素(SiC)ひげ結晶断面を調べるための試料調製法

Sample preparation technique for examination of SiC whisker cross-sections.

著者 (3件)： BRADLEY S A (Allied-Signal Engineered Materials Research Center, IL, USA) ,  DIETZ N L (Allied-Signal Engineered Materials Research Center, IL, USA) ,  KARAKEK K R (Allied-Signal Engineered Materials Research Center, IL, USA)
資料名： Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy of Materials  (Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy of Materials)
ページ： 115-118  発行年： 1988年 
JST資料番号： K19880588  ISBN： 0-931837-83-9  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記試料調製に使われる超ミクロトーム法を述べる。この方法によ...

シソーラス用語： 電子顕微鏡観察 ,...

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分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (4件)： 炭化けい素 ,  SiC ,  ひげ結晶 ,  試料調製